目录
1. 纹波概述
2. 纹波产生原因
3. 纹波测试方案
4. 电源纹波测试影响因素
4.1. 不同材质输出电容
4.2. 示波器带宽
4.3. 示波器底噪
4.4. DC Gain
4.5. 示波器Offset设置
4.6. 示波器探头接地
4.7. 探头衰减(Atten)
4. 纹波抑制的核心思路
1. 纹波概述
- 纹波(Ripple):由开关电源功率器件周期性开关动作引起的、和开关频率同步的周期性电压波动,是电源的 “固有节奏”。
- 噪声(Noise):叠加在纹波上的、无规律的高频尖峰,来自开关尖峰、寄生参数、电磁干扰等。

测试中通常关注的是峰峰值(Peak-to-Peak)纹波,而实际示波器测量的是 “纹波 + 噪声” 的总峰峰值。
2. 纹波产生原因
1. 开关动作 → 电感电流纹波(ΔI_L) 开关管周期性导通 / 关断,电感电流呈三角波变化,形成峰峰值为 ΔI_L 的电流纹波。
- 开关导通:电感电流上升,给输出电容充电;
- 开关关断:电感电流下降,输出电容向负载放电;

2. 电流纹波 → 输出电压纹波(ΔV) 电流纹波流过输出电容,由于电容并非理想元件,会产生两部分电压变化:
- 电容本身充放电导致的电压变化:

- 等效串联电阻(ESR)上的压降:ΔV_ESR = ΔI_L*ESR

3. 纹波公式中通常以 ESR 和 C 的影响为主,纹波总公式:
![]()
输出电压纹波 = 电感电流纹波 ×(电容 ESR 压降 + 电容充放电压降);
-
ESR 是纹波的 “主要贡献者”:尤其是高频开关电源中,ESR 压降往往比电容充放电压降更大,是纹波的主要来源;
-
开关频率 f_SW 越高,纹波越小:频率越高,电容充放电周期越短,电压变化量越小;
-
电容容量 C 越大,纹波越小:电容越大,单位电流变化引起的电压变化越小;
3. 纹波测试方案
-
示波器:带宽建议≥100MHz 以捕捉开关频率,但测量时需开启 20MHz 带宽限制功能,耦合方式选择交流耦合,底噪越低越好 ;

-
探头:首选1X 无源探头或50Ω同轴电缆,不要用 10X 探头,因为 1X 档位灵敏度高且噪声小 ;

-
接地配件:准备接地弹簧或自制短接地线,去掉探头自带的长接地夹,防止引入高频干扰;


4. 电源纹波测试影响因素
4.1. 不同材质输出电容
纹波的 “主导因素” 和电容材质强相关
| 陶瓷电容 | 电容充放电 | 最小 | 几乎无 |
| 钽电容 | ESR + 部分 ESL | 中等 | 轻微 |
| OSCON 电容 | ESR + 明显 ESL | 中等偏大 | 较明显 |
| 铝电解电容 | ESR | 最大 | 轻微 |

4.2. 示波器带宽
1. 示波器带宽选择
纹波的主体是开关频率f_SW)及其谐波,而开关信号的快速边沿(尤其是 GaN 器件)会带来高频噪声,频谱会一直延伸到 1GHz 以上;
传统 20MHz 带宽的适用场景:对于纹波本身的测量,20MHz 带宽可以滤除高频噪声,还原由 PWM 开关产生的真实纹波,符合行业通用标准;
现代器件的测试挑战:氮化镓(GaN)等高速开关器件,上升时间极短,会产生大量高频噪声与谐波,此时全带宽示波器可以看到 1GHz 以上的噪声成分,这对测试设备的带宽和采样率提出了更高要求;
采样率与带宽的关系:为了不混叠信号,采样率必须满足: f_s > 2.5 × BW
比如 20MHz 带宽,采样率建议≥50MSa/s;1GHz 带宽,采样率建议≥2.5GSa/s。

2. 电源纹波测试场应用
| Application I | 高速微处理器 / 低功耗设备调试 | 高精度纹波(<10mV)+ 超快速边沿(2-4GHz) | 处理器、FPGA、存储设备、图像传感器 | 2~4GHz |
| Application II | SMPS/PMIC 特性测试 | 多通道、中等精度纹波(~10mV)+ 快速边沿 | 电源模块触发测试、电池测试、效率验证 | <2GHz |
| Application III | 传统纹波 / 系统集成测试 | 常规纹波(~30mV)+ 慢速边沿 | 汽车、工业、消费电子 | <1GHz |
4.3. 示波器底噪
做Power Ripple(电源纹波)、Noise(噪声)、Transient(瞬态)精准测试时,不能只看被测信号本身,必须把示波器本机底噪 + 探头引入的附加底噪纳入评估,底噪数值越小,越能分辨微弱的电源波动,测试精度越高。
- 通道 1(黄色轨迹):示波器空载无输入,呈现示波器自身的本底噪声;
- 通道 2(蓝色轨迹):接入 TPR1000 探头并短接输入,在 1GHz 带宽下,这支探头仅额外增加约17μV的噪声;
结论:优质低噪声探头自身附加噪声极低,不会显著抬高系统总底噪,适合 mV 级甚至 μV 级的微弱电源纹波测试;

4.4. DC Gain
DC Vertical Accuracy(直流垂直精度),也就是我们常说的DC Gain 误差,它直接决定了示波器对电压信号的测量准确性,尤其是对电源纹波这类小信号的影响极大。
公式定义:

- DC vertical gain accuracy:垂直增益误差,代表示波器放大器对信号的放大比例误差,可在示波器数据手册中查到
- Display vertical offset accuracy:垂直偏置误差,代表示波器对直流偏置电压的测量误差,同样可在手册中查到;
- 0.25% full scale:满量程固有误差项,是示波器的基础精度限制;
- Full scale:满量程电压,等于 volts/division × 垂直格数;
Power 测试一般要求 DC Gain 至少是 ±1.5%,最好是 ±1%
- 对于普通纹波(>30mV):±1.5% 的 DC Gain 可以满足基本测试需求;
- 对于低纹波(<10mV,如 1.1V 电源轨的 5.5mV 纹波):必须使用 DC Gain≤±1% 的示波器,否则测量误差会超过被测信号本身;
4.5. 示波器Offset设置
1. 示波器 ADC 位数普遍在 8~12 位,想要精准测量 mV 级纹波,就必须用 小垂直档位(如 5mV/div)来提升分辨率。但电源轨本身带有几伏甚至几十伏的直流分量,直接用小档位会导致信号超出屏幕量程,无法观测纹波细节。
| AC 耦合 | 隔直,仅保留交流纹波分量 | 无需 Offset,可直接用小档位观测纹波 | 内置高通滤波器会滤除低频信号(约 2Hz 以下),无法捕捉电源的动态压降(Power Droop)、负载瞬态等低频变化 |
| DC 耦合 + Offset | 用 Offset 抵消直流分量,保留完整信号 | 无低频滤波,可同时观测纹波、直流电平、瞬态变化 | 对示波器的Offset 范围有极高要求,普通示波器无法抵消高电压轨(如 12V/48V)的直流分量 |

2. 汽车电子等高压轨测试的特殊需求
-
场景:12V/48V 电源通过 Buck 电路降压供电,需要同时测量纹波和负载瞬态压降(Power Droop);

-
AC 耦合的致命问题:会滤除 2Hz 以下的低频分量,导致无法捕捉瞬态负载变化引起的缓慢电压跌落,造成测试结果失真;
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正确方案:使用高 Offset 范围的示波器 + DC 耦合,既能抵消高压直流分量,又能完整保留从 DC 到高频的所有信号成分;

4.6. 示波器探头接地
探头并非理想导线,随着频率升高,探头和接地线会表现出明显的R-L-C 传输线特性,其中接地线的寄生电感是纹波测试中最容易被忽略的误差来源。
- 接地线的寄生电感 L 与探头输入电容 C 会形成一个 LC 谐振回路;

- 当开关电源的高频噪声或边沿信号频率接近谐振频率时,会产生 振铃(Ring和尖峰噪声,严重干扰纹波的真实测量;

- 接地线越长,寄生电感越大,谐振频率越低,越容易在开关电源的工作频段内产生谐振 ;

4.7. 探头衰减(Atten)
高衰减比探头(如 10X)的优势是可以承受更高的电压、拥有更大的动态范围,但代价是会放大测量误差;
而低衰减比探头(如 1X/1.25X)虽然动态范围小,但对纹波的测量精度更高。
- ADC 利用率下降
高衰减探头会将信号按比例缩小,导致示波器无法设置更小的垂直档位(如 1mV/div),只能使用部分 ADC 量程,降低了分辨率,引入量化误差;

- 信噪比(SNR)恶化
信号被衰减后,幅度会接近示波器的本底噪声,信噪比下降,噪声占比大幅提升,导致纹波测量结果被噪声淹没。 信噪比公式:![]()
Vnoise是示波器的随机底噪。衰减比 Atten 越大,信噪比越低;


探头选型策略:
| 低压轨纹波(<5V,纹波 < 10mV) | 1X/1.25X 低衰减探头 | 最大化信噪比,保留纹波细节 |
| 高压轨纹波(>12V,纹波 > 30mV) | 10X 探头(配合 AC 耦合 / Offset) | 优先保证安全和动态范围,同时纹波幅度足够大,信噪比仍可接受 |
| 瞬态压降 / 动态负载测试 | 低衰减探头(配合高 Offset 示波器) | 避免衰减导致的信号失真,完整捕捉瞬态变化 |
4. 纹波抑制的核心思路
- 降低 ESR:选择低 ESR 的陶瓷电容、聚合物电容;
- 增大输出电容容量:或采用多颗电容并联(同时降低等效 ESR);
- 提高开关频率:在允许范围内提高 DC-DC 的开关频率;
- 优化 PCB 布局:缩短开关节点回路、减小寄生电感 / 电阻,降低噪声尖峰。


